芯片失效分析步骤:1、非破坏性分析：主要是超声波扫描显微镜（C-SAM）--看有没delamination，xray--看内部结构，轮廓检测装置，等等；2、电测：主要工具，万用表，示波器，tek370a3、破坏性分析：机械decap，化学decap芯片开封机4、半导体器件芯片失效分析芯片內部分析，孔洞气泡失效分析。苏州特斯特电子科技有限公司，主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务，产品涵盖电子元器件，轮廓检测设备，电路板，线缆线束的测试与检测。微光显微镜侦测不到亮点之情况：不会出现亮点的故障-欧姆接触；金属互联短路；表面反型层；硅导电通路等。亮点被遮蔽之情况-BuriedJuncti及Leakagesitesundermetal，这种情况可以采用backside模式，但是只能探测近红外波段的发光，河北轮廓检测，且需要减薄及抛光处理。苏州特斯特电子科技有限公司，主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务，产品涵盖电子元器件，电路板，线缆线束的测试与检测。超声波扫描显微镜，英文名是：ScanningAcousticMicroscope，简称SAM，轮廓检测价格，由于它的主要工作模式是C模式，因此也简称：C-SAM或SAT。北软检测SAT频率高于20KHz的声波被称为超声波。超声波扫描显微镜是理想的无损检测方式，广泛的应用在物料检测（IQC）、失效分析（FA）、质量控制(QC)、及可靠性(QA/REL)、研发(R&D)等领域。检测电子元器件、LED、金属基板的分层、裂纹等缺陷（裂纹、分层、空洞等）；通过图像对比度判别材料内部声阻抗差异、确定缺陷形状和尺寸、确定缺陷方位。轮廓检测装置-苏州特斯特电子-河北轮廓检测由苏州特斯特电子科技有限公司提供。苏州特斯特电子科技有限公司坚持“以人为本”的企业理念，拥有一支高素质的员工队伍，力求提供更好的产品和服务回馈社会，并欢迎广大新老客户光临惠顾，真诚合作、共创美好未来。苏州特斯特——您可信赖的朋友，公司地址：苏州工业园区新平街388号腾飞创新园23幢5层04室5529C号房间，联系人：宋作鹏。)