膜厚仪EDX8000T型XRF镀层测厚仪-苏州英飞思(图)
英飞思开发的EDX8000B镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确,快速,膜厚仪EDX8000T型XRF镀层测厚仪,无损,操作简单,测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度,并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。XRF镀层测厚仪工作原理镀层测厚仪EDX8000B是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒-30秒内完成。XRF金属镀层测厚仪产品特点>测试快速,无需样品制备>可通过内置高清CCD摄像机来观察及选择定位微小面积镀层厚度的测量,避免直接接触,污染或破坏被测物>备有多种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品>可覆盖元素周期表Mg镁到U铀>SDD检测器,具有高计数范围和出色的能量分辨率>可切换准直器和滤光片XRF金属镀层测厚仪应用场景>EDX8000B镀层测厚仪可以用于PCB镀层厚度测量,PCB镀层分析,金属电镀镀层分析;>测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等>可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度苏州英飞思科学仪器有限公司,英文名字:EfficiencyScientificInstrumentCo.,Ltd.公司logo和英文缩写为ESI。英飞思ESI坐落于美丽而现代的苏州工业园。XRF镀层测厚仪工作原理镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒-30秒内完成。膜厚仪EDX8000T型XRF镀层测厚仪-苏州英飞思(图)由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。苏州英飞思科学仪器有限公司实力不俗,信誉可靠,在江苏苏州的分析仪器等行业积累了大批忠诚的客户。英飞思科学带着精益求精的工作态度和不断的完善创新理念和您携手步入辉煌,共创美好未来!)